pertumbuhan thin film terdiri dari beberapa fase yaitu nukleasi

Upload: puspo-rini

Post on 24-Feb-2018

220 views

Category:

Documents


0 download

TRANSCRIPT

  • 7/25/2019 Pertumbuhan Thin Film Terdiri Dari Beberapa Fase Yaitu Nukleasi

    1/5

    Pertumbuhan thin film terdiri dari beberapa fase yaitu nukleasi, difusi, dan tumbuh pada

    permukaan substrat. Jenis nukleasi yang terjadi pada proses pertumbuhan thin film

    merupakan nukleasi heterogen yaitu suatu proses nukleasi yang melibatkan permukaan

    (misalnya: substrat). Jadi, substrat memfasilitasi proses terjadinya nukleasi, dimana nantinya

    nukleasi ini akan bergantung pada contact angleantara nuklei dan substrat. Termasuk reaksi

    tidak spontan. Terdapat 3 mode dasar nukleasi, yaitu pertumbuhanIslandatau Volmer!eber,

    pertumbuhanLayeratau "rank#an der $er%e dan pertumbuhan Island-layeratau &transki

    'rastono#.

    pada proses pembentukan film juga terjadi penurunan energi bebas ibbs dan

    peningkatan energi permukaan (energi antar muka). Perubahan total energi bebas ibss

    G , akibat pembentukan nuklei ini diberikan dalam persamaan berikut.

    G=a3 r3

    v+a1r2

    vf+a2r2

    fsa2r2

    sv ()

    r adalah jarijari nuklei, vf ,

    sf ,sv merupakan energi permukaan dari uapnuklei,

    nukleisubstrat dan substratuap, dan v adalah perubahan energi bebas ibbs per satuan

    #olum.

    . *ntuk besaran konstanta geometri diberikan pada persamaan diba%ah ini.

    a1=2(1cos ) (+)

    a2=sin2

    (3)

    a3=3(23cos+cos2

    ) ()

    -uklei akan stabil jika ukurannya lebih besar dari ukuran kritis(r)

    . &aat keadaan kritis

    dG /dr=0

    d

    dr(a

    3r3

    v+a1 r2

    vf+a2 r2

    fsa2 r2

    sv)=0

    3a3 r2

    v+2a1r vf+2a2 r fs2a2r sv=0

    r

    =

    2(a1 vf+a2 fsa2sv)

    a3

    r 2 G v ()

  • 7/25/2019 Pertumbuhan Thin Film Terdiri Dari Beberapa Fase Yaitu Nukleasi

    2/5

  • 7/25/2019 Pertumbuhan Thin Film Terdiri Dari Beberapa Fase Yaitu Nukleasi

    3/5

    1alam fase gas, molekul gas terus bergerak dan bertabrakan antara molekul itu

    sendiri serta dengan dinding %adah. Tekanan gas adalah hasil transfer momentum dari

    molekul gas ke dinding. 1iba%ah ini merupakan persamaan yang mengungkapkan

    kebergantungan antara mean free pathdengan tekanan gas.

    mfp=510

    3

    P (0)

    denganmfp adalah mean free path(m) dan P adalah tekanan (torr). 'etika tekanannya

    berada diba%ah 103

    torr, molekul gas hanya bertabrakan dengan dinding ruang #akum

    atau tidak ada tabrakan antara molekul gas dengan sesamanya. Jumlah molekul gas yang

    menumbuk permukaan persatuan %aktu diberikan oleh fluks .

    7erdasarkan pada geometri sistem dan tekanan yang terlibat, alliran gas dapat

    dibedakan menjadi tiga, yaitu aliran molekuler bebas (freemolecular flow), aliran menengah

    (intermediate flow), dan aliran kental (viscous flow). Pernyataan diatas diilustrasikan pada

    gambar 0. Pada keadaanfreemolecular flow, jumlah molekul sangat sedikit (keadaan #akum

    tinggi), sehinggamfpD atau mean free pathantara molekul lebih besar dari dimensi

    sistem, dan hanya terdapat tumbukan antara molekul dengan dinding sistem saja. Pada

    tekanan tinggi, terdapat banyak molekul sehingga terjadi tumbukan antar molekul gas karena

    mean free pathsemakin berkurang.

    Pada keadaan ini, jenis aliran gasnya yaitu viscous flow atau aliran kental. -amun, pada

    keadaan dimana

    mfpD

    , sudah pasti tidak akan ada tumbukan antara patrikel gas dengan

    dinding sistem. 1iantara keduanya terdapat keadaan yang merupakan keadaan transisi antara

    freemolecular flowdan viscous flow, yaitu intermediate flow.

    7erdasarkan gambar dan tabel dapat ditegaskan bah%a semakin besar massa jenis suatu

    gas, maka semakin besar pula tekanan gasnya, sedangkan mean free path nya akan semakin

    keil. 1engan demikian, laju alirnya mendekati kearah aliran #iskos jika mean free path nya

    akan semakin keil.

    5.4.1.1.Laser Beam Evaporation

  • 7/25/2019 Pertumbuhan Thin Film Terdiri Dari Beberapa Fase Yaitu Nukleasi

    4/5

    ;laro

    1ilakukan #ariasi arus dalam penguapan 7i (mengubah jumlah atom 7i yang

    menempel pada substrat).

    ?aju deposisi88 terdapat lebih banyak nanopartikel pada permukaan film.

    *kuran partikel 88 jumlah 7i 88.

    1opping 7i dalam film Ti=+dapat meningkatkan kinerja fotokatalitik.

    5.4.1.2.Electron Beam Evaporation(EBE)

    Pemanasan filamen: "ilamen panas memproduksi berkas elektron yang tereksitasi

    Pemanasan bahan:&umber panas merupakan berkas elektron yang dihasilkan dari tahap

    pertama, digunakan magnet untuk mengarahkan gerak elektron.

    Kondensasi :&etelah material berubah menjadi uap, menudian memenpel pada substrat dan

    terkondensasi.

    5.4.1.3.Modified Activated Reactive Evaporation(M Arc)

    &ahoo dkk mengaplikasikan metode $ ;r untuk membuat Thin filmtembaga oksida (@u=)

    dengan oksidasi langsung dari uap reaktif thin filmtembaga nitrat @u3-.

    Prosedur:

    Thin film @u3- diendapkan pada substrat kaa (suhu ruang) dan dihubungkan dengan

    katoda frekuensi radio (A").

    Tekanan yang digunkan yaitu mTorr.

    "ilm dianil selama jam pada temperatur yang berbeda (+6636B@).

    5.4.2.Molecular Beam Epitaxy(MBE)

    1igunakan hamber ultra high vacuum(tekanannya 66torr).

    *ap atom antara satu sama lainnya tidak saling berinteraksi

    Mean free pathatom 8 daripada jarak antara sumber dengan substratnya.

    ?ingkungan sangat bersih, suhu pertumbuhan rendah (misalnya 6C@ untuk a;s),

    sehingga dapat membatasi prose difusi.

  • 7/25/2019 Pertumbuhan Thin Film Terdiri Dari Beberapa Fase Yaitu Nukleasi

    5/5

    &ong dkk menumbuhkan film Dn&bE7iEpada substrat a;s dengan $7/ pada substrat

    a;s.

    @hamber terdiri dari sel filamen efusi ganda untuk Dn dan a, sel filamen tunggal

    untuk 7i dan katup untuk &b dan ;s.

    ?aju pertumbuhan keepatan rendah (6.+ FmGh), tekanan 3H6 .H62Torr.

    Prosedur:

    &ubstrat dianil pada suhu 06B@, didinginkan hingga suhunya 0+6B@ (tumbuh lapisan

    a;s tebal 6nm)

    1idinginkan jadi 6B@ (tumbuh a&b tebal +66 nm), +6 B@ (tumbuh Dn&b tebal

    36nm diatas lapisan a&b)

    1ipanaskan menjadi 3 B@ dan 35 B@ (tumbuh Dn&bE7iE).

    5.4.3. S!""erin#

    Proses pelepasan atom atau molekul dari material target (sampel) dengan

    menggunakan ion berenergi tinggi.

    1igunakan tekanan #akum tinggi dan substrat yang digunakan berbentuk %afer

    Target dan substrat letaknya saling berhadapan ( berperan sebagai elektroda).

    $edium a%al berupa gas inert (argon) tekanan 66mTorr

    Terjadi luutan elektron pada elektroda ketika diberi tegangan

    /lektron bebas energetik diperepat oleh medan listrik sehingga bertumbukan dan

    mengionisasi atom argon.

    Don menembus ke dalam bahan dan menyimpan energinya didalam substrat untuk

    meningkatkan proses pelingkupan (coverage).