diktat bab 1-2 (xrf-aes)014

7/24/2019 Diktat Bab 1-2 (Xrf-Aes)014

1/25

1

KIA-2/Bab.XRF-AES/FMIPA-UII-013/[email protected]

KIMIA INSTRUMENTAL ANALISIS

(KIA-2, Revisi 3)

Bab. TEKNIK ANALISIS NUKLIR:

XRF-AES, SPEKTROMETRI DAN ANALISISAKTIVASI NEUTRON (AAN)

Kimia-FMIPA-UII

Disusun Oleh

Agus Taftazani

(2013)


2/25

2



3/25

3


PENDAHULUAN Kimia Analisis Instrumental

Spektrometri : mempelajari dan (ilmu) pengukuran berdasar spektrum.

Spektrum :sederetan noda (speck, hitam/putih/warna lainnya) pada film.

Noda ini diakibatkan oleh: sinar (tampak, infra merah, ultra violet, sinar X maupun sinar

), partikel (netral atau ion: , , netron, ion-ion, atom, molekul dsb.)

Letak noda yang timbul akibat proses tsb. pada film (atau yang lain) memberi ciri dari sinar

maupun partikel yang jatuh padanya sehingga dapat dipakai sebagai alat pengukuran, peneraan,

analisis dsb.

Instrumen : untuk memisahkan agar suatu berkas jatuh pada noda-noda tertentu.

Alat pemisah: tergantung kepada jenis berkas yang akan dianalisis

sinar IR, UV, Vis: pemisahannya dengan kisi (grating) Iinstrumen

R/UV-Vis

berkas iondengan medan magnet atau listrik dsb. Spektrom. Masa

Intensitas (sinar yang datang) pada noda:dicirikan oleh posisi/lokasi/panjang gelombang/

energi tertentu menunjukan ciri spesifik analisis kualitatip

tebal-tipisnya/lebar-sempitnya noda analisis kuantitatip

Perkembangan Teknik deteksi:

Intensitas noda menjadi pulsa-pulsa elektronik (maka analisis noda pada film sudah tidak

mengikat lagi), analisis berdasarsinyalelektronikpada suatu detektor dapat dilakukan.

Ada detektor atau probe yang sekaligus dapat memisahkan spektrumdari suatu berkas

sehingga bersama dengan rangkaian elektroniknya berkas dapat langsung dianalisis tanpa

terlebih dahulu mengalami instrumen pemisah.

Pada detektor nuklir (NaI(Tl) dan Ge(Li) untuk sinar dan Si(Li) untuk sinar X) maka

sinar dengan pendek sekali dapat dideteksi dan dilihat pemisahan energinya atau pada

saluran ganda (multichannel analyser).

Spektrometri NMR atau EPR (tidak lagi bicara mengenai noda-noda dalam film ataupun

detektor yang memisahkan berkas sinar/partikel) , tetapi spektrum yang ditimbulkan

adalah akibat sinyal resonansi yang terjadi untuk inti/atom tertentu menghendaki

hubungan antar medan magnet luar dan frekuensi radio yang dipakai. ( = B, =

frekuensi radio, B = medan magnet luar, = tetapan giro magnet nuklir/atom dari

inti/atom tertentu).

Hubungan antar frekuensi dan medan magnet tersebut memberikan ciri dari inti atom

tertentu yang dianalisis untuk analisis kualitatip saja (analisis kuantitatip berdasar

tinggi/rendahnya pulsa resonansi)

Cara-cara analisis lainnya dalam bidang kimia (elektrokimia, kromatografi, analisa termal

dsb.).


4/25

4


BAB 1: XRF

Spektrometri Pendar Sinar-X (X-Ray Flourescence)Spektrometri pendar sinar-X adalah suatu metode analisis yang didasarkan pada

pengukuran tenaga dan intensitas spektra sinar-X yang dihasilkan sebagai akibat interaksi atom-

atom unsur cuplikan yang dikenai radiasi sumber pengeksitasi.

Menurut teori Bohr, atom terdiri dari inti atom yang bermuatan positif dan elektron-

elektron yang bermuatan negatif. Elektron-elektron mengelilingi inti pada kulit-kulit diskrit dan

terikat pada inti dengan gaya Colomb. Bila atom suatu unsur dikenai radiasi dengan tenaga

radiasi yang lebih besar dari tenaga ikat elektron terhadap inti dalam atom tersebut, maka

elektron dari atom tersebut akan terpental dan meninggalkan tempat lowong. Tempat kosong

tersebut akan diisi oleh elektron dari kulit lebih luarnya lagi. Jadi atom dalam keadaan dasar

secara bertahap, dimana setiap tahap terjadi loncatan elektron dari tenaga lebih tinggi ke tingkattenaga yang lebih rendah. Kelebihan tenaga ini dipancarkan dalam bentuk sinar-X. Tenaga

radiasi sinar-X tersebut adalah karakteristik setiap atom unsur yang memancarkan.

Sinar-X tersebut merupakan hasil eksitasi elektron suatu unsur setelah disinari suatu

sumber sinar. Prinsip spektrometer pendar sinar-X berdasarkan lepasnya elektron pada bagian

dalam dari atom akibat terkena radiasi sehingga menyebabkan emisi.Proses emisi ini

menghasilkan sinar-X karakteristik yang menjadi identitas unsur-unsur tertentu.

Energi sinar-X karakteristik unsur-unsur digunakan untuk analisis kualitatif. Sedangkan

intensitas spektrum sinar-X digunakan sebagai dasar perhitungan analisis kuantitatif. Teknik

analisis dengan spektrometer pendar sinar-X ini lebih banyak digunakan daripada analisis

konvensional lainnya seperti polarografi, gravimetrik dan sebagainya, karena mengingat metodeini cepat, seksama, tidak merusak bahan, dapat digunakan pada cuplikan berbentuk padat, bubuk,

cair maupun pasta

Aplikasi spektrometri pendar sinar-X dalam bidang analisis semakin berkembang pesat.

Kelebihan lain dari teknik analisis ini adalah dapat menganalisa campuran yang sukar dipisahkan

dengan cara analisis biasa. Metode ini bersifat tidak merusak terhadap cuplikan, sehingga dapat

digunakan secara luas dalam berbagai bidang seperti industri, geologi dan arkeologi. Selain itu,

cuplikan yang dibutuhkan untuk analisis menggunakan metode ini juga relatif sedikit.

Metode analisis menggunakan spektrometri pendar sinar-X seperti halnya dengan metode-

metode analisis lain yaitu juga dipengaruhi oleh adanya matrik dan heterogenitas cuplikan di

samping beberapa kelemahan lain seperti kepekaannya rendah, tidak bisa mendeteksi unsur-

unsur ringan. Beberapa metode analisis yang digunakan untuk mengatasi/mereduksi pengaruh

matrik (pengaruh serapan dan pengkayaan) tersebut adalah metode kalibrasi standar, metode

internal standar, metode standarisasi dengan sinar-X terhambur, metode pengenceran matrik

(dilution method), metode lapis tipis, metode standar adisi dan dilusi. Metode kalibrasi standar

pada prinsipnya adalah garis spektra unsur di dalam cuplikan diinterpolasikan ke kurva kalibrasi

standar yang dibuat antara intensitas garis spektra unsur yang sama terhadap konsentrasi standar


5/25

5


Interaksi Elektromagnetik

Ketika suatu cuplikan dikenai sinar dari sumber pengeksitasi akan terjadi tiga jenis

interaksi elektromagnetik yaitu, efek fotolistrik, efek compton dan produksi pasangan.

Efek Fotolistrik

Efek fotolistrik adalah terpancarnya elektron dari permukaan logam yang disinari suatu

sumber pengeksitasi dengan frekuensi yang cukup tinggi. Gelombang sinar yang datang

tersebut membawa energi. Sebagian energi ada yang diserap oleh elektron dan ada yang

terkonsentrasi pada elektron tertentu yang kemudian muncul kembali menjadi suatu

energi kinetik. Dalam proses tersebut, berkas cahaya yang kuat akan menghasilkan energi

elektron yang besar. Dalam proses ini biasanya diikuti oleh terpancarnya sinar-X dan

elektron auger dengan energi kinetik yang sama besar dengan energi ikat. Proses

terjadinya auger elektron disebabkan karena terjadinya kekosongan elektron pada suatu

orbital akibat terkena energi sinarX atau gamma.

Paparan sinar-X atau gamma dari luar ini menyebabkan elektron terlempar keluar dariorbitnya, sehingga orbital yang kosong tersebut ditempati oleh elektron lain yang berasal

dari orbital yang lebih tinggi tingkatan energinya. Semakin besar energi ikat elektron

dalam suatu atom, maka kebolehjadian untuk terjadinya efek fotolistrik semakin besar

Efek Compton

Efek compton merupakan interaksi foton dengan elektron bebas atau dengan elektron

yang tidak terikat kuat pada inti karena lemahnya gaya coulomb yang mempengaruhinya.

Saat terjadi efek compton ini, tumbukan yang terjadi adalah jenis tumbukan elastis antara

sinar yang datang sebagai partikel foton dan elektron suatu atom dalam cuplikan.

Produksi Pasangan (Pair Production)

Produksi pasangan merupakan proses interaksi yang terjadi antara foton dengan materiyang menghasilkan terbentuknya pasangan positron dan elektron dengan energi kinetik

yang sama besar.

Sinar gamma mempunyai karakteristik yang sama dengan sinar-X. Kekuatan masing-

masing tipe interaksi elektromagnetik tersebut tergantung pada energi dan nomor atom

(Z) dalam unsur cuplikan. Unsur dengan nomor atom sedikit membutuhkan energi di

bawah 100 keV dan hanya mengalami proses fotolistrik. Efek Compton terjadi pada

range energi 1-2 MeV dan produksi pasangan pada range energi di atas 5 MeV


6/25

6


MODEL ATOM BOHR

2/19/[email protected] 15

10-14 m

10-10m

=1A

Inti Atom (proton + Netron)

Elektron

Prinsip Dasar Spektrometri Pendar Sinar-X

Prinsip dasar analisis spektrometri pendar sinar-X adalah pengukuran sinar-X

karakteristik yang dihasilkan dari efek fotolistrik. Efek fotolistrik terjadi karena elektron

dalam atom target (cuplikan) terkena sinar berenergi tinggi (radiasi gamma atau sinar X).

Secara umum cara kerja dari spektrometer pendar sinar-X adalah sebagai berikut: sinar-X

dari sumber pengeksitasi akan mengenai cuplikan dan menyebabkan interaksi antara

sinar-X dengan cuplikan yang menimbulkan sinar-X yang karakteristik tiap unsur.

2/19/[email protected]

Energi

Eksternal

Sinar-X

karakteristik

TRANSISI ELEKTRON

Gambar 2

Gambar 2.Proses interaksi sinar-X dengan cuplikan (Taftazani, 2013)


7/25

7


Sinar-X karakteristik tersebut selanjutnya mengenai detektor Si(Li) yang akan

menimbulkan pulsa listrik yang lemah, pulsa yang lemah kemudian diperkuat dengan

preamplifier yang selanjutnya diperkuat lagi dengan amplifier dan disalurkan pada

penganalisis saluran ganda (Multi Chanel Analyzer). Tenaga sinar-X karakteristik

tersebut dapat dibaca pada tabel tenaga, sehingga dapat diketahui unsur-unsur yang ada

dalam cuplikan yang dianalisis

Komponen Spektrometer Pendar Sinar-X

Spektrometer Pendar Sinar-X tersusun dari tiga komponen utama, yaitu: sumber eksitasi,

detektor dan unit pemrosesan data

Sumber Eksitasi

Untuk menghasilkan sinar-X yang karakteristik dapat digunakan dua macam pengeksitasi

sinar-X, yaitu:

Tabung sinar-X

Tabung sinar-X merupakan pengganti sumber radioisotop sebagai sumber pengeksitasi.Sinar-X dihasilkan dari penembakan elektron yang dipercepat dalam medan listrik kuat

pada suatu target. Proses ini membutuhkan voltase tinggi. Kelebihan dari sumber tabung

sinar-X adalah energi sinar-X yang dihasilkan dapat diatur dan disesuaikan dengan energi

unsur yang akan dianalisis.

2/19/[email protected] 20

kV

A

KatodaFocusing CupTargetAnoda

Windows

Pendingin Filament

2. Sumber radiasi Tabung (Pesawat Pembangkit Radiasi)

Sinar-X

Sumber Radioisotop

Sumber radioisotop adalah isotop-isotop tertentu yang dapat digunakan untuk

mengeksitasi cuplikan sehingga menghasilkan sinar-X yang karakteristik (Herlani dkk,

2011). Sinar-X yang dihasilkan berasal dari peluruhan radioaktif isotop-isotop tersebut.


8/25

8


Sumber radioisotop memiliki beberapa kekurangan diantaranya adalah keterbatasan

dalam menganalisis unsur karena energi tiap-tiap sumber radioisotop berbeda, sumber

radioisotop dapat membahayakan lingkungan karena menghasilkan sinar-X sewaktu-

waktu baik saat digunakan maupun tidak.

Sumber radioisotop adalah salah satu jenis sumber eksitasi yang digunakan dalam XRF

untuk menghasilkan sinar X primer. Sumber radioisotop memanfaatkan isotop-isotop

untuk menghasilkan radiasi sinar X. Isotop adalah unsur yang memiliki nomor atom sama

tetapi nomor massa berbeda karena perbedaan jumlah neutronnya. Unsur-unsur yang

memiliki karakteristik tersebut dapat meluruh dan menghasilkan energi yang besar

berupa sinar-X.

Dalam memilih sumber radioisotop, terdapat beberapa syarat yang harus dipenuhi antara

lain: proses peluruhan radioaktif memancarkan sinar , dan , tenaga radiasi yangdipancarkan 1-50 keV, aktivitas sumber radioisotop 1-5 mCi, dan juga memiliki waktu

paruh (Mulyono dkk, 2008). Pemilihan sumber radioisotop untuk pengeksitasi

disesuaikan dengan jenis unsur yang akan dianalisis, yaitu sumber primer harusmempunyai energi lebih besar dari energi ikat elektron yang akan dieksitasi (Sumantri,

2002). Dalam aplikasinya, sumber radioisotop dibungkus dengan timbal agar penyebaran

radiasi terhadap lingkungan dapat dicegah. Beberapa contoh sumber radioaktif disajikan

dalam Tabel 5berikut ini

Tabel 5.Sumber-sumber radioisotop yang dapat digunakan untuk eksitasi sinar-X

(EPA SW-846, Method 6200)

Radioisotop Energi

Eksitasi (keV)

Aktivitas

Peluruhan

(mCi)

Waktu Paruh

(T1/2

)

Range Analsis Unsur

Iron-55 ( Fe) 5,9 20-50 2,7 tahun SulfurKromium K LinesMolibdenum Barium LLines

Cadmium-109

(109

Cd)

22,1 dan 87,9 530 1,3 tahun KalsiumRodium K LinesTantalumTimbal K LinesBarium - Uranium L Lines

Americium-

241 (241

Am)

26,4 dan 59,6 530 432 tahun TembagaTulium K LinesTungsten Uranium LLines

Detektor

Tiga jenis detektor yang umum digunakan dalam analisis menggunakan spektrometer

sinar-X adalah alat cacah proposional isian gas, alat cacah sintilasi dan detektor-detektor

semikonduktor. Dari ketiga jenis detektor ini, setiap foton sinar-X sebanding dengan

tenaga foton. Pada detektor ini, sinar-X yang dideteksi diserap oleh atom gas, atom

iodium pada lempeng (NaI)Tl dan atom silikon pada lapisan Si(Li) (Susetyo, 1998).


9/25

9


Pada spektrometer pendar sinar-X yang menggunakan detektor jenis semikonduktor

Si(Li), biasanya menggunakan nitrogencair yang dimasukkan dalam dewar atau cryostat.

Penggunaan nitrogencair ini untuk mengatasi arus bocor bolak-balik yang disebabkan

oleh efek termal, sehingga detektor Si(Li) harus dioperasikan pada suhu sangat rendah,

yaitu dengan menggunakan nitrogen cair 77K atau setara -196oC sebagai pendingin.

Apabila tidak dilakukan pendinginan maka arus akan bocor dan akan merusak daya pisah

detektor. Selain itu, pendingin dengan nitrogen cair juga diperlukan untuk menjaga agar

ion-ion Li tidak merembes keluar dari kristal dan menyebabkan hilangnya daerah

intrinsik

Unit Pemrosesan Data

Unit pemrosesan data spektrometer pendar sinar-X meliputi preamplifier, linier amplifier,

counter, timer serta penganalisis salur ganda atau Multi Chanel Analyzer (MCA). Alat-

alat ukur ini dibutuhkan dalam mengolah pulsa output suatu detektor. Preamplifier

berfungsi dalam pembentukan ritme pulsa dengan rise timeyang pendek. Linier amplifier

berfungsi untuk memperkuat dan membentuk pulsa yang keluar dari detektor. Timerberfungsi untuk membatasi waktu cacah, serta MCA yang berfungsi mengklasifikasikan

pulsa yang masuk ke dalam saluran-saluran (Susetyo, 1998).

Cara Kerja Spektrometer Pendar Sinar-X

Sumber radioisotop di pasang di atas alat detektor, kemudian cuplikan diletakkan di atas

sumber.

Radiasi gamma () yang dihasilkan sumber radioisotop terhadap cuplikan akan

menimbulkan sinar-X karakteristik yang selanjutnya akan mengenai detektor sehingga

akan dihasilkan pulsasignal.

Pulsa yang dihasilkan ini masih sangat lemah sehingga masih perlu diperkuat dengan

penguat awal (preamplifier) dan dikirim ke MCA. Alat ini berfungsi untuk memilah

pulsa menurut tingginya (sesuai dengan tenaga sinar-X yang dihasilkan dari cuplikan).

Pulsa dengan tinggi tertentu dicatat cacahnya pada nomor salur tertentu dan ditampilkan pada

layar penganalisis salur ganda sebagai spektra sinar-X.


10/25

10


9/20/[email protected]/KAI2/FMIPA-

UII 26

Cryostat (Tabung Pengisian Nitrogen Cair)

Sumber radiasi

radioisotop

MCA dengan Genie

3.02, Canberra

Gambar .. Sistem XRF dengan detector Si(Li)

dan MCA dari Canberra

Metode Analisis

XRF dapat digunakan secara kualitatif maupun kuantitatif.

Analisis Kualitatif

Analisis kualitatif bertujuan untuk mengetahui kandungan unsur dalam suatu sampel.

Dalam spektrometri sinar-X, analisis kualitatif meliputi pembacaan spektrum cuplikan

yaitu identifikasi puncak-puncak hingga klasifikasi unsur berdasarkan puncaknya dengan

syarat XRF sudah terkalibrasi tenaga terlebih dahulu. Analisis kualitatif menggunakan

spektrometer sinar-X dapat menganalisis semua unsur dengan nomor atom 15 dalam

satu sampel sekaligus (Agus Taftazani, 2013).Analisis Kuantitatif

Analisis kuantitatif dapat dilakukan dengan metode absolut dan relatif. Metode absolut

dilakukan dengan menggunakan data efisiensi alat, sedangkan metode relatif dengan

standar pembanding seperti metode kurva standar, perbandingan tunggal (single

comparator) dan metode adisi (Taftazani, 2013).

Standar pembanding yang digunakan dalam analisis harus yang bersertifikat serta

mempunyai bentuk matrik dan kondisi pengukuran harus sama dengan sampel yang

dianalisis. Analisis kuantitatif berdasarkan intensitas unsur dalam satuan cps dan setelah

dibandingkan menjadi satuan berat mikro gram atau gram. Semakin besar nilai intensitas

menunjukkan semakin banyaknya kandungan unsur tersebut dalam sampel (Masrukan

dkk, 2007).

Kalibrasi Tenaga

Tinggi pulsa keluaran detektor dan penguat setara dengan tenaga sinar-X. pulsa dengan

tinggi tertentu dicatat dan dikumpulkan dalam suatu salur tertentu, sehingga nomor salur

akan sebanding dengan tenaga sinar-X yang terdeteksi. Hubungan kesebandingan ini

dapat ditentukan dengan cara mengeksitasikan beberapa unsur tertentu terpisah secara


11/25

11


bergantian atau campuran unsur tertentu secara bersama-sama. Puncak-puncak spektra

yang dihasilkan yang ditampilkan pada layar Multi Channel Analyzer (MCA) dicatat

nomor salurnya dengan bantuan cursor. Kurva hubungan antara nomor salur dengan

tenaga sinar-X yang teramati adalah merupakan kurva kalibrasi tenaga yang linier. Dalam

praktek hubungan ini dinyatakan secara matematis dalam persamaan yang mempunyai

bentuk umum: y = mx + c ,dimana:

y = tenaga m = slope

x = nomor salur c = intersep

Validasi Metode

Validasi metode adalah proses mengkonfirmasi bahwa satu metode mempunyai unjuk

kerja yang konsisten sesuai dengan apa yang dikehendaki dalam penerapan metode

tersebut (Samin, 2007). Kegiatan validasi metode meliputi pengujian presisi, akurasi dan

ketidakpastian.Akurasi

Akurasi adalah kesesuaian hasil antara suatu analisis dan nilai benar/unsur. Nilai hasil

analisis kenyataannya merupakan perkiraan nilai benar dengan memperhitungkan nilai

ketidakpastiannya. Pengujian akurasi dapat dilakukan dengan dua cara, yaitu i) analisis

bahan acuan dimana hasilnya dibandingkan dengan nilai analit sebenarnya, selisih hasil

tersebut memberikan nilai penyimpangan dari metode, ii) analisis bahan acuan/uji dimana

hasilnya dibandingkan dengan pengukuran dengan menggunakan metode lain. Selisihnya

memberikan nilai penyimpangan metode relatif terhadap metode lain. Cara kedua

dilakukan ketika tidak tersedia bahan acuan. Nilai bias atau penyimpangan ialah nilai

yang dipergunakan untuk mengukur kebenaran hasil analisis yang menyatakan perbedaanantara hasil analisis yang diharapkan dengan nulai acuan yang merupakan estimator nilai

sebenarnya (Murniasih dkk, 2010).

Presisi

Presisi atau kecermatan suatu metode yaitu tingkat kedapat-ulangan suatu rangkaian hasil

uji diantara hasil-hasil itu sendiri. Presisi berhubungan dengan hasil suatu metode pada

pengulangan pengukuran sampel yang homogen dengan kondisi terkontrol. Presisi hasil

uji dapat dilakukan dengan pengulangan analisis, apabila variasi hasilnya kecil maka

dikatakan bahwa kecermatan pengukuran tersebut tinggi. Presisi didefinisikan sebagai

closeness of agreementatau seberapa dekat hasul-hasil pengujian atau analisis yang tidak

saling mempengaruhi satu sama lain yang diperoleh dalam kondisi tertentu. Kualitas dari

sebuah hasil pengukuran atau analisis dapat dilihat dari presisinya.

Ketidakpastian Baku Tipe A


12/25

12


Apabila suatu pengukuran dilakukan sebanyak n kali, maka nilai rerata dan simpangan

bakunya dapat dihitung. Simpangan baku atau standar deviasi (S) adalah suatu taksiran

sebaran populasi dimana n nilai tersebut diambil, yaitu

S = [ (Xi X)2]0,5/n-1. (1)Perhitungan ketidakpastian baku tipe A (), dilakukan dengan cara pengukuran

atau pengamatan berulang sehingga dapat diperoleh nilai rata-ratanya.

= S/n.. (2)Ketidakpastian Baku Tipe B

Perhitungan ketidakpastian baku tipe B(), nilai ketidakpastian yang dilaporkan

bersumber dari acuan dalam sertifikat dibagi dengan faktor cakupan yang diberikan

dalam acuan sertifikat, bila tidak ditemukan informasi faktor cakupan, maka dapat

diambil 2 (dua) untuk distribusi normal persamaan (3) dan distribusi rekatangular

persamaan (4) dengan tingkat kepercayaan 95 %.

(x) = S/2 atau S/1,96. (3)

(x) = S/3. (4)Perhitungan ketidakpastian gabungan (c) diperoleh dengan menggabungkan seluruhketidakpastian baku dari komponen-komponennya, yaitu dengan menjumlahkan seluruh

ketidakpastian baku, mengkuadratkan, dan menarik pangkat dua dari jumlahnya dengan

persamaan sebagai berikut.

c2= B

2+ C

2atau C= (B

2+ C

2)0,5

. (5)

Ketidakpastian diperluas (U), untuk mendapatkan probabilitas yang memadai bahwa nilai

hasil uji berada dalam rentang yang diberikan oleh ketidakpastian. Perhitungannya yaitu

dengan mengalikan ketidakpastian baku gabungan dengan faktor cakupan (2) yang

memberikan tingkat kepercayaan sekitar 95%.

U = k.C. (6)


13/25

13


BAB 2

UGER ELECTRON SPECTROSCOPY

(AES)

Disusun olehAgus Taftazani


14/25

14



15/25

15



16/25

16



17/25

17



18/25

18



19/25

19



20/25

20



21/25

21



22/25

22



23/25

23



24/25

24



25/25

25

KIA 2/B b XRF AES/FMIPA UII 013/ i@b id

diktat bab 1-2 (xrf-aes)014

Documents