laporan biologi (mikroskop)

Download LAPORAN BIOLOGI (MIKROSKOP)

If you can't read please download the document

Upload: hendro-fadly

Post on 18-Jun-2015

7.682 views

Category:

Documents


37 download

TRANSCRIPT

LAPORAN BIOLOGI MIKROSKOP

Oleh Nama NPM Jurusan Asisten : Hendro Fadly : E1C009055 : Peternakan :-

Jurusan Peternakan Fakultas Pertanian Universitas Negeri Bengkulu 2009 BAB I PENDAHULUAN

A. Latar Belakang Keanekaragaman makhluk hidup yang merupakan sumber acuan dalam proses pembelajaran yang memiliki peran penting dalam melakukan kegiatan praktikum ini, yang mana dalam proses kegiatan ini penulis akan menjelaskan berdasarakan dengan susunan materi yang telah kami pelajari, yaitu pada Mikroskop. Mikroskop merupakan alat yang memiliki fungi penting dalam mengamati benda-benda, organisme makhluk hidup yang pada umumnya berukuran sangat kecil, salah satu contoh yang kami lakukan adalah mengamati sel-sel makhluk hidup serta struktur yang terbentuk di dalamnnya. B. Tujuan Tujuan dalam kegiatan ini adalah : Mengetahui, mengenal bagian-bagian mikroskop, cara

mempergunakannya, serta perawatannya. Mengetahui jenis-jenis mikroskop, dan Memahami strukutur-struktur yang terdapat dalam objek penelitian

BAB II TINJAUAN PUSTAKA

Pengertian Kata mikroskop (microscope) berasal dari bahasa Yunani, yaitu kata micron=kecil dan scopos=tujuan, yang maksudnya adalah alat yang digunakan untuk melihat obyek yang terlalu kecil untuk dilihat oleh mata telanjang. Dalam sejarah, yang dikenal sebagai pembuat mikroskop pertama kali adalah 2 ilmuwan Jerman, yaitu Hans Janssen dan Zacharias Janssen (ayah-anak) pada tahun 1590. Temuan mikroskop saat itu mendorong ilmuan lain, seperti Galileo Galilei (Italia), untuk membuat alat yang sama. Galileo menyelesaikan pembuatan mikroskop pada tahun 1609, dan mikroskop yang dibuatnya dikenal dengan nama mikroskop Galileo. Mikroskop jenis ini menggunakan lensa optik, sehingga disebut mikroskop optik. Mikroskop yang dirakit dari lensa optic memiliki kemampuan terbatas dalam memperbesar ukuran obyek. Hal ini disebabkan oleh limit difraksi cahaya yang ditentukan oleh panjang gelombang cahaya. Secara teoritis, panjang gelombang cahaya ini hanya sampai sekitar 200 nanometer. Untuk itu, mikroskop berbasis lensa optik ini tidak bisa mengamati ukuran di bawah 200 nanometer. Untuk melihat benda berukuran di bawah 200 nanometer, diperlukan mikroskop dengan panjang gelombang pendek. Dari ide inilah, di tahun 1932 lahir mikroskop elektron. Sebagaimana namanya, mikroskop elektron menggunakan sinar elektron yang panjang gelombangnya lebih pendek dari cahaya. Karena itu, mikroskop elektron mempunyai kemampuan pembesaran obyek (resolusi) yang lebih tinggi dibanding mikroskop optik. Sebenarnya, dalam fungsi pembesaran obyek, mikroskop elektron juga menggunakan lensa, namun bukan berasal dari jenis gelas sebagaimana pada mikroskop optik, tetapi dari jenis magnet. Sifat medan magnet ini bisa mengontrol dan mempengaruhi elektron yang melaluinya, sehingga bisa berfungsi menggantikan sifat lensa pada mikroskop optik. Kekhususan lain dari mikroskop elektron ini adalah pengamatan obyek dalam kondisi hampa udara (vacuum). Hal ini dilakukan karena sinar elektron akan terhambat

alirannya bila menumbuk molekul-molekul yang ada di udara normal. Dengan membuat ruang pengamatan obyek berkondisi vacuum, tumbukan elektron-molekul bisa terhindarkan. Ada 2 jenis mikroskop elektron yang biasa digunakan, yaitu

transmission electron microscopy (TEM) dan scanning electron microscopy (SEM). TEM dikembangkan pertama kali oleh Ernst Ruska dan Max Knoll, 2 peneliti dari Jerman pada tahun 1932. Saat itu, Ernst Ruska masih sebagai seorang mahasiswa doktor dan Max Knoll adalah dosen pembimbingnya. Karena hasil penemuan yang mengejutkan dunia tersebut, Ernst Ruska mendapat penghargaan Nobel Fisika pada tahun 1986. Sebagaimana namanya, TEM bekerja dengan prinsip menembakkan elektron ke lapisan tipis sampel, yang selanjutnya informasi tentang komposisi struktur dalam sample tersebut dapat terdeteksi dari analisis sifat tumbukan, pantulan maupun fase sinar elektron yang menembus lapisan tipis tersebut. Dari sifat pantulan sinar elektron tersebut juga bisa diketahui struktur kristal maupun arah dari struktur kristal tersebut. Bahkan dari analisa lebih detail, bisa diketahui deretan struktur atom dan ada tidaknya cacat (defect) pada struktur tersebut. Hanya perlu diketahui, untuk observasi TEM ini, sample perlu ditipiskan sampai ketebalan lebih tipis dari 100 nanometer. Dan ini bukanlah pekerjaan yang mudah, perlu keahlian dan alat secara khusus. Obyek yang tidak bisa ditipiskan sampai order tersebut sulit diproses oleh TEM ini. Dalam pembuatan divais elektronika, TEM sering digunakan untuk mengamati penampang/irisan divais, berikut sifat kristal yang ada pada divais tersebut. Dalam kondisi lain, TEM juga digunakan untuk mengamati irisan permukaan dari sebuah divais. Tidak jauh dari lahirnya TEM, SEM dikembangkan pertama kali tahun 1938 oleh Manfred von Ardenne (ilmuwan Jerman). Konsep dasar dari SEM ini sebenarnya disampaikan oleh Max Knoll (penemu TEM) pada tahun 1935. SEM bekerja berdasarkan prinsip scan sinar elektron pada permukaan sampel, yang selanjutnya informasi yang didapatkan diubah menjadi

gambar. Imajinasi mudahnya gambar yang didapat mirip sebagaimana gambar pada televisi. Cara terbentuknya gambar pada SEM berbeda dengan apa yang terjadi pada mikroskop optic dan TEM. Pada SEM, gambar dibuat berdasarkan deteksi elektron baru (elektron sekunder) atau elektron pantul yang muncul dari permukaan sampel ketika permukaan sampel tersebut discan dengan sinar elektron. Elektron sekunder atau elektron pantul yang terdeteksi selanjutnya diperkuat sinyalnya, kemudian besar amplitudonya ditampilkan dalam gradasi gelap-terang pada layar monitor CRT (cathode ray tube). Di layar CRT inilah gambar struktur obyek yang sudah diperbesar bisa dilihat. Pada proses operasinya, SEM tidak memerlukan sampel yang ditipiskan, sehingga bisa digunakan untuk melihat obyek dari sudut pandang 3 dimensi. Demikian, SEM mempunyai resolusi tinggi dan familiar untuk

mengamati obyek benda berukuran nano meter. Meskipun demikian, resolusi tinggi tersebut didapatkan untuk scan dalam arah horizontal, sedangkan scan secara vertikal (tinggi rendahnya struktur) resolusinya rendah. Ini merupakan kelemahan SEM yang belum diketahui pemecahannya. Namun demikian, sejak sekitar tahun 1970-an, telah dikembangkan mikroskop baru yang mempunyai resolusi tinggi baik secara horizontal maupun secara vertikal, yang dikenal dengan "scanning probe microscopy (SPM)". SPM mempunyai prinsip kerja yang berbeda dari SEM maupun TEM dan merupakan generasi baru dari tipe mikroskop scan. Mikroskop yang sekarang dikenal mempunyai tipe ini adalah scanning tunneling microscope (STM), atomic force microscope (AFM) dan scanning near-field optical microscope (SNOM). Mikroskop tipe ini banyak digunakan dalam riset teknologi nano "

BAB III PEMBAHASAN

Cara Menggunakan dan Merawat Mikroskop Bagian-bagian penting mikroskop :

1. Okuler,

terdiri

atas

susunan

lensa,

biasanya

2

buah

dengan

perbesaran masing-masing 6X dan 10X. 2. Objektif juga merupakan susunan lensa, biasanya terdiri atas 3 buah dengan perbesaran masing-masing 6X dan 10x, 40x dan 100x. objektif kuat ketebalannya lebih kecil dari objektif lemah. Ketiga objektif tersebut diletakkan pada revolver. 3. Revolver ( penukar objek berputar ) untuk mengganti-ganti objektif cukup dengan memutar revolver sampai terasa bunyi berdetik. 4. Tubus menghubungkan okuler dengan objektif. 5. Meja sendiaan, terdapat dua jepitan untuk memegang kaca objek atau memegang yang dapat digerakkan segital ( depan belakang ) dan frontal ( kanan kiri ). Pada mikroskop Spencher terdapat sekrup pengendali kondensor. 6. Kondensor untuk menurunkan cahaya. Dapat dinaik-turunkan dengan sekrup pengendali kondensor. 7. Diafragma iris terletak di bawah kondensor, untuk mengatur

banyaknya cahaya yang masuk. Dibawahnya terdapat cincin filter yang dapat dikisarkan keluar. 8. Cermin berguna untuk mengarahkan cahaya, dapat diputar balikkan sehingga dapat dipakai cermin cekung atau datar. 9. Kaki mikroskop sebagai penegak

Jenis-jenis mikroskop Jenis paling umum dari mikroskop, dan yang pertama diciptakan, adalah

mikroskop optik. Mikroskop ini merupakan alat optik yang terdiri dari satu atau lebih lensa yang memproduksi gambar yang diperbesar dari sebuah benda yang ditaruh di bidang fokal dari lensa tersebut. Berdasarkan sumber cahayanya, mikroskop dibagi menjadi dua, yaitu, mikroskop cahaya dan mikroskop elektron. Mikroskop cahaya sendiri dibagi lagi menjadi dua kelompok besar, yaitu berdasarkan kegiatan pengamatan dan kerumitan kegiatan pengamatan yang dilakukan. Berdasarkan kegiatan dan pengamatannya, mikroskop cahaya dibedakan menjadi mikroskop diseksi untuk mengamati bagian permukaan dan mikroskop monokuler binokuler untuk mengamati bagian dalam sel. Mikroskop monokuler

merupakan mikroskop yang hanya memiliki 1 lensa okuler dan binokuler memiliki 2 lensa okuler. Berdasarkan kerumitan kegiatan pengamatan yang dilakukan, mikroskop dibagi menjadi 2 bagian, yaitu mikroskop sederhana (yang umumnya digunakan pelajar) dan mikroskop riset (mikroskop darkfield, fluoresens, fase kontras. Struktur mikroskop Ada dua bagian utama yang umumnya menyusun mikroskop, yaitu: Bagian optik, yang terdiri dari kondensor, lensa objektif, dan lensa okuler. Bagian non-optik, yang terdiri dari kaki dan lengan mikroskop, diafragma, meja objek, pemutar halus dan kasar, penjepit kaca objek, dan sumber cahaya. o PembesaranTujuan mikroskop cahaya dan elektron adalah menghasilkan bayangan dari benda yang dimikroskop lebih besar. Pembesaran ini tergantung pada berbgai faktor, diantaranya titik fokus kedua lensa( objektif f1 dan okuler f2, panjang tubulus atau jarak(t) lensa objektif terhadap lensa okuler dan yang ketiga adalah jarak pandang mata normal(sn). Rumus:

Sifat bayangan Baik lensa objektif maupun lensa okuler keduanya merupakan lensa cembung. Secara garis besar lensa objektif menghasilkan suatu bayangan sementara yang mempunyai sifat semu, terbalik, dan diperbesar terhadap posisi benda mula-mula, lalu yang menentukan sifat bayangan akhir selanjutnya adalah lensa okuler. Pada mikroskop cahaya, bayangan akhir mempunyai sifat yang sama seperti bayangan sementara, semu, terbalik, dan lebih lagi diperbesar. Pada mikroskop elektron bayangan akhir mempunyai sifat yang sama seperti gambar benda nyata, sejajar, dan diperbesar. Jika seseorang yang menggunakan mikroskop cahaya meletakkan huruf A di bawah mikroskop, maka yang ia lihat adalah huruf A yang terbalik dan diperbesar.

BAB IV KESIMPULAN Mikroskop memilki berbagai jenis macam, dan salah satunya adalah mikroskop optik yang merupakan mikroskop pertama yang ditemukan. Dengan memanfaatkan mikroskop sebagai alat optik yang sangat berfungsi untuk mengamati organisme yang berukuran sangat kecil, kita dapat mengetahui semua susunan yang terbentuk / terdapat di dalamnya serta memahami tata cara penggunaanya dan mengerti akan bagian-bagian dari mikroskop.

DAFTAR PUSTAKA www.wikipedia.org.co.id/mikroskop Penulis, dkk. 2001. Penuntun Praktikum Biologi Umum. Bengkulu: Laboratorium Biologi Fakultas Matematika dan Ilmu Pengetahuan Alam Universitas Bengkulu.